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試驗(yàn)檢測設(shè)備是一種規(guī)范測驗(yàn)辦法,通過測驗(yàn)在線組件的電氣特性和電氣銜接來查看制造缺點(diǎn)和組件缺點(diǎn)。它首要查看線路的單個(gè)組成部分以及每個(gè)電路網(wǎng)絡(luò)的開路和短路狀況,具有操作簡略,快速,精確,毛病定位的特點(diǎn)。
飛針I(yè)CT基本上僅僅靜態(tài)測驗(yàn),優(yōu)點(diǎn)是不需求夾具,程序開發(fā)時(shí)刻短。
針床式ICT可以執(zhí)行模仿設(shè)備功用和數(shù)字設(shè)備邏輯功用測驗(yàn),并且毛病覆蓋率高。但是,每個(gè)單板都需求專用的針床夾,并且夾具的生產(chǎn)和程序開發(fā)周期很長。
ict主動(dòng)測驗(yàn)儀的規(guī)模和特征
查看成品板上在線組件的電氣性能以及電路網(wǎng)絡(luò)的銜接。它可以定量測量電阻器,電容器,電感器,晶體振蕩器等設(shè)備,并對二極管,晶體管,晶體管,變壓器,繼電器,運(yùn)算放大器,電源模塊等進(jìn)行功用測驗(yàn),并在小型和小型設(shè)備上進(jìn)行功用測驗(yàn)。中型集成電路,例如所有74系列,存儲器類,通用驅(qū)動(dòng)器類,開關(guān)類和其他IC。
它通過直接測驗(yàn)在線設(shè)備的電氣性能來發(fā)現(xiàn)制造工藝缺點(diǎn)和組件缺點(diǎn)。組件類可以查看組件值是否超出公役,是否出現(xiàn)毛病或損壞,Memory類中的程序錯(cuò)誤等。關(guān)于工藝類別,可以發(fā)現(xiàn)諸如焊料短路,組件刺進(jìn)錯(cuò)誤,反向刺進(jìn),負(fù)載缺失,引腳舉高,虛擬焊接,PCB短路,斷開銜接等毛病。
ict主動(dòng)測驗(yàn)儀的毛病直接坐落特定的組件,設(shè)備引腳和網(wǎng)絡(luò)點(diǎn)上,并且毛病位置是精確的。修正毛病不需求更多的專業(yè)知識。程序控制的主動(dòng)化測驗(yàn)非常簡略快捷。評估板的測驗(yàn)時(shí)刻通常為幾秒到幾十秒。
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